仪器设备
仪器设备
当前位置: 首页 -> 仪器设备

实验室重大仪器设备(50万元以上)清单

设备名称 设备型号 设备价格(万元) 产地国 生产公司名称 用途 是否开放
原子层沉积系统 Savannah-100 97.03 俄罗斯 NT-MDT 薄膜制备 是
钛宝石超窄线宽可调谐激光器 SOLSTIS-SRX-F-10 97 英国 M Squared Lasers 激光光源 是
多功能扫描探针显微镜 NANOSCOPE   Ⅲa 95.24 美国 DI 在室温、大气环境下,从原子尺度到125   μm范围内,可对固体材料、薄膜、生物等扫描观察。 是
真空镀膜系统 订制 95 中国 沈阳科仪 薄膜制备 是
激光分子束外延系统 LMBE450 90 中国 中科院沈科仪 薄膜制备 是
高分辨真空光谱仪 TGS300 87.24 法国 JY 光谱探测 是
椭圆偏振仪 UVISEL(m200) 84 法国 JOBIN YVON 提供多层薄膜的厚度和界面无损测量(精度小于1nm)和薄膜光学性质分析,包括色散关系和折射率 是
高温金属有机物化学气相沉积系统 3x2   FT 806.4 英国 AIXTRON 为实现高质量AlN基半导体材料提供制备手段。 否
扫描探针显微镜 Series   5500 77 美国 安捷伦 样品测量 否
近场光学显微镜 ST-130S 74.3 美国 EG&G 光学成像 是
聚焦离子束/电子束系统 Helios   Nanolab 600i 691.08 美国 FEI公司 维纳加工 是
拉曼光谱仪 SNOM 69.5 俄罗斯 NT-MDT 光谱测量 是
深能级瞬态谱仪 DLS-83D 64.07 匈牙利 SEMILAB 光谱测量 否
压电陶瓷扫描控制系统 SPM100 64 美国 RHK AFM控制系统 否
多真空室激光溅射系统 LMBE-450型 63 中国 中科院沈科仪 薄膜制备 是
分子束外延蒸发源 SPECS   Nanonis等一批 62.34 德国 SPECS/Createc 制备薄膜 是
太阳能电池光谱响应测试仪 QE-R   Series 61.34 日本 ENLI 光谱测量 是
霍尔效应测试仪 HL5500 57.5 美国 Nanmentrics   Incorporated 测量电阻率,载流子浓度,载流子迁移率 是
低能电子衍射枪 ErLEED   150/R6等 52.16 德国 SPECS 测量材料结构 是
等离子体去胶机 310 50.14 德国 PVATEPLa 样品制备 是
材料研究衍射仪 X'PERT-MRD 254 荷兰 Philips 衍射测量 是
材料综合物性测量系统 PPMS-9 236.52 美国 QD 变温和变场环境下的磁化强度测试和电阻测试 是
高动能分辨反应成像谱仪 COLTRIMS302 229.19 德国 RoentDek 产生电子离子成像 是
金属/氧化物介质多功能超薄膜制备系统 LAB18 220 美国 Kurt J Lesket 薄膜制备 是
高次谐波光脉冲发生器 订制型 199.4 德国 UI 光源 是
时间分辨可见-红外全光谱发光寿命测量仪 C10910 199 日本 滨松 光谱测量 是
紫外-近红外光谱仪 LABRAM   HR800 196 法国 HORIBA 光谱测量 是
准分子激光系统 COMPEXPRO   205 160 美国 Coherent 激光光源 是
计算机集群 曙光TC3600 148.9 中国 中国曙光公司 开展大型计算 否
磁学性质测量系统 MPMS   XL-7Tesla 143 美国 Quautum Design 磁性测量 是
扫描近场光学显微镜 NTEGRA   SNOM 142.74 俄罗斯 NT-MDT 光学成像 是
低温强磁场量子输入系统 VTI/14T 136 英国 牛津仪器 样品测量 是
高温高阻霍尔测量系统 Accent 123 英国 Accent Optical 霍尔特性测量 是
皮秒激光器/参量振荡器 PicoTrain/Levante,PL2210A-1K-SH 123 俄罗斯 EKSPLA 激光光源 是
高功率飞秒激光器 PHAROS-20W-1MHz 118.61 立陶宛 Light Conversion 纳加工激光光源 否
双光子激光共聚焦显微镜 FV1000 118 日本 奥林巴斯 微区测量 是
有机化学气相沉积系统 CWⅡ 117.73 中国 长春物理所 样品制备 是
紫外喇曼光谱仪 invia   6365 117 英国 Renishaw 光谱测量 是
原子力显微镜 Dimension   ICON-PT 114 美国 BRUKER 表面形貌测量 是
飞秒激光器系统 Chameleon   Ultra II 112.05 美国 相干 产生飞秒激光 是
细胞芯片自动扫描显微镜 Ti-E 110 日本 尼康 样品探测 是
磁光低温磁场系统 SM4000 108 英国 牛津仪器 光谱测量 是
有机金属化学淀积系统 3X2"   GaN 1069 英国 Thomas swan 主要运用于GaN相关的光、电子学器件结构的外延生长。 否
单面紫外光刻机 MJB4 100.45 德国 suss 样品制备 是
高强度粉末中子衍射仪 定制型 854.74   美国 IA 晶体结构和磁结构测试 是
多功能超高分辨电子束刻蚀系统 e-LINE   plus 690.90   德国 RAITH 电子束曝光 是
高温高压物理气相输运AlN单晶生长系统 PVT-AlN-001 580.80   中国 哈尔滨化兴软控科技有限公司 AlN体单晶生长 否
千赫兹高功率相位稳定飞秒放大激光器 FemtoPower   HE/HR2 552.97   奥地利 Femtolasers 强场光物理研究,生物样品探测 是
超高真空外延系统 定制型 486.00   波兰 VG SCIENTA 新型半导体材料外延制备 否
飞秒激光放大系统 FemtoCompactPro 471.66   奥地利 Femtolasers 强场光物理研究,生物样品探测 是
分子束外延系统 SVT   N35-V-2 445.00   美国 SVT 半导体材料外延制备 否
脉冲激光沉积和磁控溅射双模式沉积系统 P180-2 322.79   美国 NEOCERA 样品制备 是
稀释制冷机 MX250 282.00   英国 牛津仪器 极低温量子输运测量 是
飞秒光参量激光器 T和 REG A 9050 227.10   美国 相干 超快激光可以作为光源,进行时间分辨的荧光探测、超快时间尺度的泵浦-探测测量、非线性二次和高次谐波探测等实验 是
速度成像谱仪 Double   VMI 215.86   英国 Photek 光谱测量 否
稳态瞬态荧光光谱仪 FLS1000 209.29   英国 爱丁堡 测试材料荧光光谱 是
介观重点实验室并行机群 曙光 180.00   中国 曙光信息产业股份有限公司 开展强场光物理大型并行计算 是
飞秒脉冲光参量激光器 Inspire Auto 100 172.75   美国 Spectra-Physics 超快激光可以作为光源,进行时间分辨的荧光探测、超快时间尺度的泵浦-探测测量、非线性二次和高次谐波探测等实验 是
超快可调谐飞秒激光系统 PHAROS 166.49   立陶宛 Light Conversion 激光光源 是
纳米压印机 Eitre   3 160.00   瑞典 Obducat 制备纳米结构 是
超精细无液氦低温光学恒温器 CRYOSTATION   C2 138.20   美国 MONTANA INSTRUMENTS 样品制备 是
高分辨光学与光谱成像显微镜 alpha   300r 134.76   德国 WITec 光谱测量 是
飞秒载波相位稳定激光器 Venteon   CEP5 130.50   德国 Laser Quantum 材料光电子谱仪激光光源 否
服务器 曙光 CX50-G20, I620-G20,   S640-G20,RG-S2928G,TC4600E 114.86   中国 曙光信息产业股份有限公司 大规模数值计算 否
高分辨光谱仪 SP2360 103.57   美国 PI 光谱仪可以实现荧光光谱、拉曼光谱、瑞利散射光谱等的测量 是
低温恒温器系统 SHI-950-HT-15 98.28   美国 JANIS 适合开展中子散射实验 是
高性能计算集群 曙光TC4600E、CX50-G30、I620-G30 96.95   中国 中国曙光公司 大规模数值计算 否
高速电子实时示波器 SDA825 87.87   美国 TELEDYNE LECROY 光谱测量 是
高性能计算集群 曙光TC4600E、CX50-G30、I620-G30 86.97   中国 曙光公司 大规模数值计算 否
钛宝石超快激光器 Tsunami-HP 85.56   美国 Newport 激光光源 是
变温强磁场系统 CFM-9T-50-VTI 78.28   英国 Cryogenic 样品探测 否
激光扫描共聚焦显微镜 FV3000 76.58   日本 奥林巴斯 光谱测量 是
扫描近场光学显微镜 NTEGRA   Solaris 73.02   德国 NT-MDT 形貌和光学像 是
超连续光谱光源 FIU-15 71.10   英国 NKT Photonics 超表面表征 否
光学参量放大器 Orpheus-HP 52.60   立陶宛 Light Conversion 飞秒激光加工 否
光谱分析仪 AQ6357B-10-L1-H/FC/RFC 50.76   日本 YOKOGAWA 光谱测量 是
红外显微成像系统 XC117B 50.33   比利时 XENICS 光学成像 否

 

版权所有 © 人工微结构和介观物理全国重点实验室(北京大学)    地址:北京市海淀区成府路209号北京大学物理大楼    邮编:100871